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报告次级离子质谱法(SIMS)中溅射深度截面数据的标准实施规程

Standard Practice for Reporting Sputter Depth Profile Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)

国外标准 现行

标准号:ASTM E1162-2006

标准名称: 报告次级离子质谱法(SIMS)中溅射深度截面数据的标准实施规程

英文名称:Standard Practice for Reporting Sputter Depth Profile Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)

标准类型:国外标准

标准状态:现行

中国标准分类号(CCS):A43

国际标准分类号(ICS):71.040.50

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