Test method for surface roughness of ceramic thin films by atomic force microscopy
标准号:JISR 1683-2007
标准名称: 用原子力显微镜方法测定陶瓷薄膜表面粗糙度的试验方法
英文名称:Test method for surface roughness of ceramic thin films by atomic force microscopy
标准类型:国外标准
标准状态:现行
中国标准分类号(CCS):Q32
国际标准分类号(ICS):81.060.30
替代以下标准:JIS R1683-2014
YD/T 1683-2007 作废
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DB62/T 1683-2007 现行
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