Test method for surface roughness of ceramic thin films by atomic force microscopy
标准号：JISR 1683-2014
标准名称： 用原子力显微镜方法测定陶瓷薄膜表面粗糙度的试验方法
英文名称：Test method for surface roughness of ceramic thin films by atomic force microscopy
标准类型：国外标准
标准状态：现行
中国标准分类号（CCS）：Q32
国际标准分类号（ICS）：81.060.30
JISR 1683-2007 现行
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