Information Requirements for the Qualification of Silicon Devices
标准号：JEDEC JESD69B-2007
标准名称： 硅仪器鉴定用信息要求
英文名称：Information Requirements for the Qualification of Silicon Devices
标准类型：国外标准
标准状态：现行
中国标准分类号（CCS）：N50
JEDEC JESD61A-2007 现行
等温线的电迁移测试程序
JEDEC JESD206-2007 现行
FBDIMM: 框架和通信协议
JEDEC JESD22-A107B-2004 现行
盐雾
JEDEC JESD22-A100-B-2000 现行
循环的温度潮湿对寿命影响的试验
JEDEC JESD22-B110A-2004 现行
副装配机械冲击
JEDEC JESD22B112-2005 现行
高温封装翘曲测量方法
JEDEC JESD22-B108A-2003 现行
表面装贴半导体仪器的共面性测试
JEDEC JEP69-B-1973 现行
场效应管用优先引脚外形
JEDEC JESD7-A-1986 现行
54/74HCXXXX和54/74HCTXXXX高速CMOS器件.勘误:描述1986年8月
JEDEC JESD71-1999 现行
标准测试和编程语言(STAPL)
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