Test Method for Quantifying Tungsten Silicide Semiconductor Process Films for Composition and Thickness
标准号:ASTM F1894-1998(2011)
标准名称: 定量分析硅化钨半导体加工膜组分和厚度的标准试验方法
英文名称:Test Method for Quantifying Tungsten Silicide Semiconductor Process Films for Composition and Thickness
标准类型:国外标准
标准状态:现行
中国标准分类号(CCS):L90
国际标准分类号(ICS):29.045
替代以下标准:ANSI/UL 746B-2013
ASTM F1894-1998 现行
定量分析硅化钨半导体加工膜组分和厚度的标准试验方法
ASTM F1894-1998(2003) 现行
ASTM D1894-2011 现行
塑料薄膜和薄板静态和动态摩擦系数的标准试验方法
ASTM D1894-2011e1 现行
ASTM F1582-1998(2011) 现行
脊椎骨植入物标准术语
ASTM F1874-1998(2011) 现行
外科缝合针弯曲试验的标准试验方法
ASTM F1932-1998(2011) 现行
测量睡袋伸缩性的标准试验方法
ASTM F1933-1998(2011) 现行
图例说明背包或登山帐篷尺寸的标准规范
ASTM F1934-1998(2011) 现行
背包旅行者和登山者用帐篷称重的标准试验方法
SAE ARP 1894A-1998 现行
(R)化学氧气发生器的使用寿命测定