百检网首页 400-101-7153
百检网 标准查询

半导体工艺材料试验.半导体片几何尺寸测量.第1部分:厚度和厚度变化

Testing of materials for semiconductor technology - Determination of the geometric dimensions of semiconductor wafers - Part 1: Thickness and thickness variation

国外标准 现行

标准号:DIN 50441-1-1996

标准名称: 半导体工艺材料试验.半导体片几何尺寸测量.第1部分:厚度和厚度变化

英文名称:Testing of materials for semiconductor technology - Determination of the geometric dimensions of semiconductor wafers - Part 1: Thickness and thickness variation

标准类型:国外标准

标准状态:现行

中国标准分类号(CCS):H82

国际标准分类号(ICS):29.045

相关服务