Testing of materials for semiconductor technology; determination of etch rates of etching mixtures; silicium monocrystals; gravimetric method
标准号:DIN 50453-1-1990
标准名称: 半导体工艺材料的检验.蚀刻混合剂浸蚀率的测定.第1部分:单晶硅测重法
英文名称:Testing of materials for semiconductor technology; determination of etch rates of etching mixtures; silicium monocrystals; gravimetric method
标准类型:国外标准
标准状态:现行
中国标准分类号(CCS):H82
国际标准分类号(ICS):29.040.30
DIN 50453-2-1990 现行
半导体工艺材料的检验.蚀刻混合剂浸蚀率的测定.第2部分:二氧化硅涂层.光学法
DIN 50453-3-2001 现行
半导体技术试验.蚀刻混合剂浸蚀率测定.第3部分:铝.测重法
GB 50453-2008 现行
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