The method of determining interstitial oxygen content in silicon by infrared absorption
标准简介:本标准规定了用红外吸收测定硅晶体中间隙氧含量的方法。本标准适用于室温电阻率大于0.1Ω·cm的硅晶体中氧含量的测量。
标准号:GB/T 1557-1989
标准名称:硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
英文名称:The method of determining interstitial oxygen content in silicon by infrared absorption
标准类型:国家标准
标准性质:推荐性
标准状态:作废
发布日期:1989-03-31
实施日期:1990-02-01
中国标准分类号(CCS):冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法
国际标准分类号(ICS):77.040.30;
替代以下标准:替代GB 1557-1983;被GB/T 1557-2006代替
起草单位:上海冶金研究所
归口单位:中国有色金属工业协会
发布单位:国家技术监督局