Test method for resistivity of conductive fine ceramic thin films with a four-point probe array
标准号:JISR 1637-1998
标准名称: 用四点探针排列法测定传导精细陶瓷薄膜电阻率的试验方法
英文名称:Test method for resistivity of conductive fine ceramic thin films with a four-point probe array
标准类型:国外标准
标准状态:现行
中国标准分类号(CCS):Q32
国际标准分类号(ICS):81.060.30
SAE MA 1637-1998 现行
金属增强非扩口的,45对90四氟乙烯盘绕软管组件
ASTM E1637-1998 现行
结构固定接缝铝屋顶镶板系统的标准规范
ASTM E1637-1998(2011) 现行
结构级固定接缝屋面铝板系统的标准规格
ASTM E1637-1998(2003) 现行
JISR 3703-1998 现行
显微镜用载片玻璃
JISR 3208-1998 现行
吸热玻璃
JISR 2011-1998 作废
含碳和/或碳化硅的耐火材料的化学分析方法
JISR 2012-1998 现行
含锆和/或氧化锆的耐火材料的化学分析方法
JISR 3256-1998 现行
玻璃衬底用表面电阻率的测量方法
JISR 1633-1998 现行
扫描电子显微镜观察用精细陶瓷和陶瓷粉末的样品制备方法