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用四点探针排列法测定传导精细陶瓷薄膜电阻率的试验方法

Test method for resistivity of conductive fine ceramic thin films with a four-point probe array

国外标准 现行

标准号:JISR 1637-1998

标准名称: 用四点探针排列法测定传导精细陶瓷薄膜电阻率的试验方法

英文名称:Test method for resistivity of conductive fine ceramic thin films with a four-point probe array

标准类型:国外标准

标准状态:现行

中国标准分类号(CCS):Q32

国际标准分类号(ICS):81.060.30

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