Testing methods for resistivity of conductive fine ceramic thin films with four point probe array
标准号:KSL 1619-2013
标准名称: 电传导陶器薄膜电阻率测定方法.4点探针法
英文名称:Testing methods for resistivity of conductive fine ceramic thin films with four point probe array
标准类型:国外标准
标准状态:现行
发布日期:2013/10/26
实施日期:2013/10/26
中国标准分类号(CCS):Q32
国际标准分类号(ICS):29.045
Q/SY 1619-2013 现行
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