Testing methods for resistivity of conductive fine ceramic thin films with four point probe array
标准号：KSL 1619-2013
标准名称： 电传导陶器薄膜电阻率测定方法.4点探针法
英文名称：Testing methods for resistivity of conductive fine ceramic thin films with four point probe array
标准类型：国外标准
标准状态：现行
发布日期：2013/10/26
实施日期：2013/10/26
中国标准分类号（CCS）：Q32
国际标准分类号（ICS）：29.045
Q/SY 1619-2013 现行
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