Coating Geometry Measurement for Optical Fiber Side View Method
标准号：ANSI/TIA/EIA 455-173-1990
标准名称： 用于光纤侧面检查法的覆层几何学测量
英文名称：Coating Geometry Measurement for Optical Fiber Side View Method
标准类型：国外标准
标准状态：现行
中国标准分类号（CCS）：M33
国际标准分类号（ICS）：33.180.10
ANSI/EIA/TIA 455-173-1990 现行
用光纤侧面观测法测量涂层几何尺寸
ANSI/EIA/TIA-455-173-1990 现行
用光纤侧面观测法的覆层几何形状测量
TIA_EIA-455-173-1990 现行
FOTP-173 光纤的被覆层几何测量,侧视法
ANSI/EIA/TIA 455-35A-1990 现行
光纤元件粉尘(细沙)试验
ANSI/TIA/EIA 455-32A-1990 现行
光纤电路不均匀性
ANSI/TIA/EIA 455-35A-1990 现行
光纤元件灰尘(细砂)试验
ANSI/EIA/TIA 455-32A-1990 现行
光纤电路的不均匀性
ANSI/TIA/EIA 455-48B-1990 现行
用激光测量仪测量光纤连皮直径
ANSI/TIA/EIA 455-226-2002 现行
FOTP226.光学时域反射计(OTDR's)的校准
ANSI/TIA/EIA 455-227-2002 现行
FOTP-227-IEC 61300.纤维光学器件和无源元件.基本试验和测量程序.第3-24部分:检查和测量.采用偏振保持光纤连接器键入准确度
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