Guidelines for GaAs MMIC and FET Life Testing
标准号：JEDEC JEP118-1993
标准名称： GaAs MMIC和FET寿命试验导则
英文名称：Guidelines for GaAs MMIC and FET Life Testing
标准类型：国外标准
标准状态：现行
中国标准分类号（CCS）：L86
国际标准分类号（ICS）：31.080
JEDEC JEP138-1999 现行
模具温度的IR热成像确定用户指南
JEDEC JEP128-1996 现行
Wafer-Level电测的标准探针垫大小和布置指南
JEDEC JEP110-1988 现行
GaAs FETs的热阻测量导则
JEDEC JEP155-2008 现行
用于人体带电模型/静电放电模型（HBM/MM）限制的电火花检测器（ESD）目标水平推荐规程
JEDEC JEP139-2000 现行
老化应力松弛特征化铝互连线金属喷镀
JEDEC JEP150-2005 现行
组装的固态表面贴装元件的测试驱使鉴定和故障机理分析
JEDEC JEP179-2006 现行
JEDEC JEP145-2003 现行
在动力机组系统中评估引线电路载体容量的指南
JEDEC JEP131A-2005 现行
FMEA潜在失效模式及后果分析
JEDEC JEP119A-2003 现行
SWEAT执行程序
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