Standard Test Method for Measuring Oxygen Concentration in Heavily Doped Silicon Substrates by Secondary Ion Mass Spectrometry
标准号:ASTM F1366-1992(1997)e1
标准名称: 用次级离子质谱仪测量重掺杂硅基底中氧含量的测试方法
英文名称:Standard Test Method for Measuring Oxygen Concentration in Heavily Doped Silicon Substrates by Secondary Ion Mass Spectrometry
标准类型:国外标准
标准状态:现行
中国标准分类号(CCS):H82
ASTM F1424-1992(1997)e1 现行
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ASTM E1042-1992(1997)e1 现行
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