百检网首页 400-101-7153
百检网 标准查询

用次级离子质谱仪测量重掺杂硅基底中氧含量的测试方法

Standard Test Method for Measuring Oxygen Concentration in Heavily Doped Silicon Substrates by Secondary Ion Mass Spectrometry

国外标准 现行

标准号:ASTM F1366-1992(1997)e1

标准名称: 用次级离子质谱仪测量重掺杂硅基底中氧含量的测试方法

英文名称:Standard Test Method for Measuring Oxygen Concentration in Heavily Doped Silicon Substrates by Secondary Ion Mass Spectrometry

标准类型:国外标准

标准状态:现行

中国标准分类号(CCS):H82

相关服务