Standard Test Method for Measurement of Insulator Thickness and Refractive Index on Silicon Substrates by Ellipsometry
标准号:ASTM F576-2000
标准名称: 用椭圆对称法测量硅衬底上绝缘体厚度及折射指数的标准试验方法
英文名称:Standard Test Method for Measurement of Insulator Thickness and Refractive Index on Silicon Substrates by Ellipsometry
标准类型:国外标准
标准状态:现行
中国标准分类号(CCS):H80
国际标准分类号(ICS):29.045
IEEE 576-2000 现行
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