Visual inspection for silicon wafers with specular surfaces
标准号：JISH 0614-1996
标准名称： 镜面硅片的目视检查
英文名称：Visual inspection for silicon wafers with specular surfaces
标准类型：国外标准
标准状态：现行
中国标准分类号（CCS）：H81
国际标准分类号（ICS）：29.045
SN/T 0614-1996 现行
外商投资财产鉴定规程
JISH 4522-1996 现行
真空管阴极用无缝镍管
JISH 2108-1996 现行
锡金属
JISH 0615-1996 现行
用光致发光光谱法测定硅晶体中杂质浓度的试验方法
JISH 5501-1996 现行
硬质合金刀片
JISH 8504-1996 现行
金属覆层的附着力试验方法
JISH 8687-1996 现行
铝和铝合金的阳极氧化覆层的介电强度的试验方法
JISB 0614-1987 现行
锥度公差体系
JISZ 0614-1991 现行
送货用推车箱式冷藏货盘
KSW 0614-2002 现行
航空器气压系统的设计及安装标准
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