Methods of measurement of thickness, thickness variation and bow for silicon wafer
标准号：JISH 0611-1994
标准名称： 硅片厚度、厚度变化及弯曲的测量方法
英文名称：Methods of measurement of thickness, thickness variation and bow for silicon wafer
标准类型：国外标准
标准状态：现行
中国标准分类号（CCS）：H81
国际标准分类号（ICS）：29.045
JISH 4160-1994 现行
铝和铝合金箔
JISH 2115-1994 现行
汞
JISH 4630-1994 现行
管道用钛管
JISH 4635-1994 现行
一般管线用钛钯合金管
JISH 2151-1994 现行
海棉状钛
JISH 4460-1994 现行
照明及电子设备用钨钼材料试验通则
JISH 8300-1994 现行
铁和钢上喷镀锌
JISH 8301-1994 现行
钢铁表面喷镀铝
JISH 8303-1994 现行
自熔性合金的熔化喷镀
JISH 8304-1994 作废
陶瓷喷镀
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