通过测量稳态硅表面光致电压确定非本征半导体中少数载流子扩散长度的标准试验方法

标准号：ASTM F391-1996

标准名称： 通过测量稳态硅表面光致电压确定非本征半导体中少数载流子扩散长度的标准试验方法

英文名称：Standard Test Methods for Minority Carrier Diffusion Length in Extrinsic Semiconductors by Measurement of Steady-State Surface Photovoltage

标准类型：国外标准

标准状态：现行

中国标准分类号（CCS）：H81

国际标准分类号（ICS）：29.045