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检测材料及介电材料性质以及用椭偏仪测量薄膜层厚度的参考程序

Reference procedure for the determination of optical and dielectric material properties and the layer thickness of thin films by ellipsometry

国外标准 现行

标准号:PAS 1022-2004

标准名称: 检测材料及介电材料性质以及用椭偏仪测量薄膜层厚度的参考程序

英文名称:Reference procedure for the determination of optical and dielectric material properties and the layer thickness of thin films by ellipsometry

标准类型:国外标准

标准状态:现行

中国标准分类号(CCS):H26

国际标准分类号(ICS):19.100

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