Semiconductor devices--Mechanical and climatic test methods
标准号：SJ/Z 9016-1987
标准名称： 半导体器件 机械和气候试验方法
英文名称：Semiconductor devices--Mechanical and climatic test methods
标准类型：行业标准
标准性质：指导性技术文件
标准状态：现行
中国标准分类号（CCS）：C01
SJ/Z 9118.3-1987 现行
磁带录放音系统 第３部分：磁带录放音设备特性的测量方法
SJ/Z 9118.1-1987 现行
磁带录放音系统 第１部分：一般条件与要求
SJ/Z 9073.3-1987 现行
电气继电器 第十五部分：电气继电器触点的寿命试验－试验设备的特性规范
SJ/Z 9021.2-1987 现行
半导体器件的机械标准化 第２部分：尺寸
SJ/Z 9073.4-1987 现行
电气继电器 第十八部分：有或无通用继电器的尺寸
SJ/Z 9073.2-1987 现行
电气继电器 第五部分：电气继电器的绝缘试验
SJ/Z 9073.1-1987 现行
有或无电气继电器
SJ/Z 9023-1987 现行
纤维光学分路器 第一部分：总规范
SJ/Z 9023.2-1987 现行
纤维光学开关 第１部分：总规范
SJ/Z 9001.3-1987 现行
基本环境试验规程 第２部分：各种试验 试验Ｂ：干热（高温）
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