Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Method for depth profiling of boron in silicon
标准号:JISK 0164-2010
标准名称: 表面化学分析.再生离子质量的光谱测定.硅中硼的深压型用方法
英文名称:Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Method for depth profiling of boron in silicon
标准类型:国外标准
标准状态:现行
中国标准分类号(CCS):A43
国际标准分类号(ICS):71.040.40
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