标准查询 标准查询硅单晶电阻率标准样片校准规范
Calibration Specification for Standard Slices of Single Crystal Silicon Resistivity
标准简介：本规范适用于电阻率在0.003 Ω·cm～1 000 Ω·cm之间的硅单晶电阻率标准样片的校准。
标准号：JJF 1760-2019
标准名称：硅单晶电阻率标准样片校准规范
英文名称：Calibration Specification for Standard Slices of Single Crystal Silicon Resistivity
标准类型：国家标准
标准状态：现行
发布日期：2019-09-27
实施日期：2020-03-27
替代以下标准：替代JJG 48-2004
起草单位：中国计量科学研究院
归口单位：全国无线电计量技术委员会
发布单位：国家市场监督管理总局
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