工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法

标准简介：本标准规定了工业硅粉中二氧化硅含量的测定方法。本标准适用于工业硅粉中二氧化硅含量的测定，测定范围：≥1%。

标准号：YS/T 1160-2016

标准名称：工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法

英文名称：Silicon powder-quantitative phase analysis—Determination of silicon dioxide content—Value K method of X-ray diffraction

标准类型：行业标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2016-07-11

实施日期：2017-01-01

中国标准分类号（CCS）：冶金>>金属化学分析方法>>H12轻金属及其合金分析方法

国际标准分类号（ICS）：电气工程>>29.045半导体材料

起草单位：昆明冶金研究院、广州有色金属研究院、国家有色金属及电子材料分析测试中心、云南永昌硅业股份有限公司、通标标准技术服务有限公司

归口单位：全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)

发布单位：工业和信息化部