标准号：YS/T 27-1992
标准名称：晶片表面上微粒沾污测量和计数的方法
标准类型：行业标准
标准性质：推荐性
标准状态：现行
发布日期：1992-03-09
实施日期：1993-01-01
中国标准分类号（CCS）：冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法
GA 27-1992 作废
文物系统博物馆风险等级和安全防护级别的规定
QC/T 27-1992 作废
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活塞式标准体积管检定规程
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NFC 27-450-1992 作废
电气用新合成有机酯规范
DIN 38405-27-1992 现行
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DIN 38409-27-1992 现行
德国检验水、废水和淤泥的标准方法.说明作用和物质特性的参数(H组).总的束缚氮TNb的测定(H27)
DBJ 08-27-1992 作废
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