X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量

标准简介：本标准规定了规定了X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量的分析原理、仪器设备、分析步骤及分析重复性、精密性等。本标准适用于氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量的测定。测定范围：SiO2：0.005％～0.08％，Fe2O3：0.004％～0.07％；Na2O：0.20％～0.80％。

标准号：YS/T 702-2009

标准名称：X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量

英文名称：Determination of silicon oxide,Iron oxide,Sodium oxide content of Aluminum Hydroxide by X-ray fluorescence spectrometric method

标准类型：行业标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2009-12-04

实施日期：2010-06-01

中国标准分类号（CCS）：冶金>>冶金原料与辅助材料>>H30冶金原料与辅助材料综合

国际标准分类号（ICS）：冶金>>有色金属>>77.120.10铝和铝合金

起草单位：中国铝业股份有限公司广西分公司

归口单位：全国有色金属标准化技术委员会

发布单位：工业和信息化部