Polished reclaimed silicon wafers
标准简介:本标准规定了硅抛光回收片的要求、检验方法、检验规则、标志、包装、运输、储存、质量证明书和订货单(或合同)内容。 本标准适用于用户提供的或来源于第三方的硅回收片(主要包括100mm、125mm、150mm和200mm单面或双面抛光硅片、未抛光硅片或外延硅片)经单面抛光制备的硅抛光片。产品主要用于机械、炉处理、颗粒和光刻中的监控片。
标准号:YS/T 985-2014
标准名称:硅抛光回收片
英文名称:Polished reclaimed silicon wafers
标准类型:行业标准
标准性质:推荐性
标准状态:现行
发布日期:2014-10-14
实施日期:2015-04-01
中国标准分类号(CCS):冶金>>半金属与半导体材料>>H80半金属与半导体材料综合
国际标准分类号(ICS):电气工程>>29.045半导体材料
起草单位:浙江金瑞泓科技股份有限公司等
归口单位:全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)
发布单位:工业和信息化部