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半导体集成电路 串行外设接口测试方法

行业标准 推荐性 现行

标准简介:本标准规定了半导体集成电路串行外设接口测试方法。本标准适用于半导体集成电路串行外设接口电特性及功能验证。

标准号:SJ/T 11702-2018

标准名称:半导体集成电路 串行外设接口测试方法

标准类型:行业标准

标准性质:推荐性

标准状态:现行

发布日期:2018-02-09

实施日期:2018-04-01

发布单位:工业和信息化部

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