标准号:SJ 1267-1977
标准名称:半导体器件用散热器在自然空气冷却状态下的热阻测试方法
英文名称:Thermal resistance measurements of sinks for semiconductor devices under natural air cooling conditions
标准类型:行业标准
标准状态:现行
发布日期:1977-12-26
实施日期:1978-01-01
中国标准分类号(CCS):电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合