标准号：SJ 1856-1981
标准名称：电子陶瓷材料氧化铝中杂质的原子吸收分光光度测定法
标准类型：行业标准
标准状态：作废
实施日期：1992-11-09
中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>电子设备专用材料、零件、结构件>>L90电子技术专用材料
替代以下标准：被SJ/T 10633-95代替
SJ 1981-1981 现行
Ｎ沟道结型场效应半导体管 ＣＳ８型高频场效应半导体管
SJ 1995-1981 现行
ＣＳ２５型Ｎ沟道结型场效应半导体对管
SJ 202-1981 现行
印制板通用技术要求和试验方法
SJ 2004-1981 现行
ＣＳ３４型Ｎ沟道结型场效应半导体对管
SJ 2003-1981 现行
ＣＳ３３型Ｎ沟道结型场效应半导体对管
SJ 1999-1981 现行
ＣＳ２９型Ｎ沟道结型场效应半导体对管
SJ 2000-1981 现行
ＣＳ３０型Ｎ沟道结型场效应半导体对管
SJ 2001-1981 现行
ＣＳ３１型Ｎ沟道结型场效应半导体对管
SJ 2002-1981 现行
ＣＳ３２型Ｎ沟道结型场效应半导体对管
SJ 1976-1981 现行
Ｎ沟道结型场效应半导体管 ＣＳ３型低频场效应半导体管
标准查询
