Semiconductor devices --Integrated circuits --Part 2:Digital integrated circuits --Section five --Blank detail specification for complementary MOS digital integrated circuits,series 4 000B and 4 000UB
标准简介:IEC电子器件质量评定体系遵循IEC章程并在IEC授权下工作。该体系的目的是确定质量评定程序,以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。
标准号:GB/T 9424-1998
标准名称:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第五篇 CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列空白详细规范
英文名称:Semiconductor devices --Integrated circuits --Part 2:Digital integrated circuits --Section five --Blank detail specification for complementary MOS digital integrated circuits,series 4 000B and 4 000UB
标准类型:国家标准
标准性质:推荐性
标准状态:现行
发布日期:1988-06-02
实施日期:1999-06-01
中国标准分类号(CCS):电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路
国际标准分类号(ICS):电子学>>31.200集成电路、微电子学
替代以下标准:GB/T 9424-1988
起草单位:电子部标准化所
归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会
发布单位:国家质量技术监督局