半导体器件机械和气候试验方法

标准简介：本标准列出了适用于半导体器件(分立器件和集成电路)的试验方法。使用时可从中进行选择。对于非空腔器件，可以要求补充的试验方法。

标准号：GB/T 4937-1995

标准名称：半导体器件机械和气候试验方法

英文名称：Mechanical and climatic test methods for semiconductor devices

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：作废

发布日期：1995-01-02

实施日期：1996-08-01

中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合

国际标准分类号（ICS）：电子学>>31.080半导体器件

替代以下标准：替代GB 4937-1986;被GB/T 4937.1-2006;GB/T 4937.2-2006代替

起草单位：上海市电子仪表计量测试所

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

发布单位：国家技术监督局