Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials
标准简介:本标准指定了一种由离子注入参考物质确定二次离子质谱分析中相对灵敏度因子的方法。本标准适用于基体化学成分单一的样品,其中注入物质的峰值原子浓度不超过1%。
标准号:GB/T 25186-2010
标准名称:表面化学分析——二次离子质谱-由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子
英文名称:Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials
标准类型:国家标准
标准性质:推荐性
标准状态:现行
发布日期:2010-09-26
实施日期:2011-08-01
中国标准分类号(CCS):化工>>化工综合>>G04基础标准与通用方法
国际标准分类号(ICS):化工技术>>分析化学>>71.040.40化学分析
起草单位:信息产业部专用材料质量监督检验中心
归口单位:全国微束分析标准化技术委员会
发布单位:国家质量监督检验检疫.